Сканирующий зондовый микроскоп «Solver NEXT»
Микроскоп позволяет проводить исследования:
-
топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии;
-
распределения латеральных сил (например, силы трения);
-
намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co);
-
распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN);
-
вольт-амперной характеристики покрытий в точке;
-
проведение литографии.
Топографию проводящих образцов на микроскопе можно исследовать в режиме туннельной микроскопии. Направление исследований - анализ порошков, покрытий, статистическая обработка данных.
|
