Стоимость анализов и испытаний на приборах Наноцентра ГОСНИТИ

№	Наименование и марка прибора	Выполняемые исследования и измерения	Виды анализов	Стоимость, руб.
1	Спектрометр «iCAP 6300 Duo»	Определение концентрации до 60 химических элементов в водных растворах с абсолютной погрешностью не более долей ppm. Нижниепределы обнаружения – доли ppm.	Определение содержания до 10 элементов, без пробоподготовки материала	2000
1	Спектрометр «iCAP 6300 Duo»		То же, до 30 элементов, без пробоподготовки материала	3000
2.	Рентгено-флуоресцентный спектрометр марки NITON в исполнении XL3t серии 900 с технологией GOLDD+	Точный количественный многоэлементный экспресс-анализ любых типов сталей и сплавов, легированных чугунов, монолитных и порошковых образцов, рудных и нерудных материалов, минералов, шлаков, концентратов, штейнов. Позволяет осуществлять входной контроль, идентификацию качества, идентификацию марки, сортировку металлов и сплавов.	Анализ чёрных металлов и цветных сплавов без определения лёгких элементов(Al, Mg,Si,P и S),идентификация марки.	800
			Анализ чёрных металлов и цветных сплавов с определением лёгких элементов(Al, Mg,Si,P и S), идентификация марки.	1000
			Анализ грунтов, почв, руд, шлаков, минералов, пород, катализаторов, углей.	1000
			Анализ драгоценных металлов, лигатур.	1200
			Анализ толщины покрытий	800
			Анализ сварных швов, миниатюрных образцов.	1200
3.	Сканирующий зондовый микроскоп «Solver Next»	Построение топографии поверхности; получение характеристик распределения заряда, намагниченности, проводимости и латеральных сил на поверхности образцов с разрешением до 10 нм. Определение вольтамперной характеристики в точке покрытия, локальная литография поверхности. Анализ порошков и компактных материалов.	Топография поверхности	1600
			Вольтамперная характеристика в точке	2000
			Распределение магнитных свойств	2400
			Распределение электрических свойств	2400
			Распределение проводимости	2400
			Распределение латеральных сил	2000
			Литография поверхности	3200
4.	Анализатор удельной поверхности «Autosorb-1»	Определение удельной поверхности от 0,1 м2/г и поровой структуры порошков и материалов, размеры пор 4…500 нм.	Определение удельной поверхности	2100
4.	Анализатор удельной поверхности «Autosorb-1»		Определение распределения пористости	6200
5.	Tрибометр «TBR-S-DE»	Испытания образцов диаметром до 60 мм в режимах сухого трения, при капельной смазке и в масляной ванне, при нагрузках на индентор до 20Н, со скоростями скольжения до 5 м/мин, продолжительностью от 9 час до 37 дней. Построение кривых коэффициента трения и профиля поверхности трения.	Испытание без подачи смазки	600
5.	Tрибометр «TBR-S-DE»		Испытаний с подачей смазки	900
6.	Рентгеновский дифрактометр XRD-6000	Фазовый и структурный анализ материалов. Определение размера кристаллов и напряженно-деформированного состояния. Углы облучения образцов: от нескольких до 90 градусов.	Идентификация состава порошков (качественный фазовый анализ)	3800
			Исследование фазового состава покрытий	5600
			Оценка напряженно-деформированного состояния материала	5600
			Определение размера кристаллов	3800
7.	Тепловизор Fluke Ti32	Исследование температурного поля объекта. Регистрация температурного поля поверхности объекта в диапазоне – 20 до + 600 °С.	Термографический анализ различных объектов в статике и динамике с разрешением 0,1 ºС.	300
8.	Металлографический комплекс для исследования структуры и свойств металлов и металлопокрытий	В состав комплекса входят высокоточные отрезные станки, электрогидропресс, устройство для электролитического полирования образцов, шлифовально-полировальный станок, микротвердомер, инвертированный металлургический микроскоп OLYMPUS GX51.	Высокоточная резка материалов.	400
			Изготовление шлифов	400
			Электролитическое травление образца	400
			Определение микротвёрдости.	400
			Фото структуры шлифа	400