Главная
Задачи наноцентра Оборудование наноцентра Прайс-лист


Стоимость анализов и испытаний на приборах Наноцентра ГОСНИТИ

 

Наименование
и марка прибора

Выполняемые исследования и измерения

Виды анализов

Стоимость,
руб.

1

Спектрометр
«iCAP 6300 Duo»

Определение концентрации до 60 химических элементов в водных растворах с абсолютной погрешностью не более  долей ppm. Нижниепределы обнаружения – доли ppm.

Определение содержания до 10 элементов, без пробоподготовки материала 

2000

То же, до 30 элементов, без пробоподготовки материала

3000

2.

Рентгено-флуоресцентный спектрометр марки NITON в исполнении XL3t серии 900 с технологией GOLDD+

Точный количественный многоэлементный экспресс-анализ любых типов сталей и сплавов, легированных чугунов, монолитных и порошковых образцов, рудных и нерудных материалов, минералов, шлаков, концентратов, штейнов. Позволяет осуществлять входной контроль, идентификацию качества, идентификацию марки, сортировку металлов и сплавов.

Анализ чёрных металлов и цветных сплавов без определения лёгких элементов(Al, Mg,Si,P и S),идентификация марки.

800

Анализ чёрных металлов и цветных сплавов с определением лёгких элементов(Al, Mg,Si,P и S), идентификация марки.

1000

Анализ грунтов, почв, руд, шлаков, минералов, пород, катализаторов, углей.

1000

Анализ драгоценных металлов, лигатур.

1200

Анализ толщины покрытий

800

Анализ сварных швов, миниатюрных образцов.

1200

3.

Сканирующий зондовый микроскоп 
«Solver Next»

Построение топографии поверхности; получение характеристик распределения заряда, намагниченности, проводимости  и латеральных сил на поверхности образцов с разрешением до 10 нм. Определение вольтамперной характеристики в точке  покрытия, локальная литография поверхности. Анализ порошков и компактных материалов.

Топография поверхности

1600

Вольтамперная характеристика в точке

2000

Распределение магнитных свойств

2400

Распределение электрических свойств

2400

Распределение проводимости

2400

Распределение латеральных сил

2000

Литография поверхности

3200

4.

Анализатор удельной поверхности
«Autosorb-1»

Определение удельной поверхности от 0,1 м2/г и поровой структуры порошков и материалов, размеры пор 4…500 нм.

Определение удельной поверхности

2100

Определение распределения пористости

6200

5.

Tрибометр
«TBR-S-DE»

Испытания образцов диаметром до 60 мм в режимах сухого трения, при капельной смазке и  в масляной ванне, при нагрузках на индентор до 20Н, со скоростями скольжения   до 5 м/мин,  продолжительностью от 9 час до 37 дней. Построение кривых коэффициента трения и профиля  поверхности трения.

Испытание без подачи смазки

600

Испытаний с подачей смазки

900

6.

Рентгеновский дифрактометр
XRD-6000

Фазовый и структурный анализ материалов. Определение размера кристаллов и напряженно-деформированного состояния. Углы облучения образцов: от нескольких до 90 градусов.

Идентификация состава порошков (качественный фазовый анализ)

3800

Исследование фазового состава покрытий

5600

Оценка напряженно-деформированного состояния материала

5600

Определение размера кристаллов

3800

7.

Тепловизор
Fluke Ti32

Исследование температурного поля объекта. Регистрация температурного поля поверхности объекта в диапазоне – 20 до + 600 °С.

Термографический анализ  различных объектов в статике и динамике с разрешением 0,1 ºС.

300

8.

Металлографический комплекс
для исследования структуры и свойств металлов
и металлопокрытий

В состав комплекса входят высокоточные отрезные станки, электрогидропресс, устройство для электролитического полирования образцов, шлифовально-полировальный станок, микротвердомер, инвертированный металлургический микроскоп OLYMPUS GX51.

Высокоточная резка материалов.

400

Изготовление шлифов

400

Электролитическое травление образца

400

Определение микротвёрдости.

400

Фото структуры шлифа

400